ZEISS Brasil apresenta nova tecnologia de inspeção de superfícies na Escola Senai Suíça

Foto: DIvulgação Zeiss

Referência em metrologia industrial, a ZEISS realizou, pela primeira vez no Brasil, demonstração única do equipamento de inspeção óptica ZEISS ABIS II, na Escola Senai Suíça, em Santo Amaro, São Paulo.

ZEISS ABIS II é um sistema inovador que, a partir de uma de nova tecnologia óptica, realiza controle de qualidade de forma automatizado, capaz de identificar defeitos de fabricação. Essa tecnologia pode ser integrada também na modalidade in-line, at-line ou off-line, sendo compatível em qualquer esteira na linha de produção de peças estampadas.

O sistema de detecção rápido e ultra-preciso do ABIS II facilita a identificação de defeitos como marcas de afundamento, ondulações e rachaduras em peças estéticas de veículos, como na lataria do carro. A utilização da tecnologia ZEISS ABIS II evita o retrabalho nas etapas subsequentes do processo, resultando em redução de custos e maior agilidade. Consequentemente, também num salto de produtividade. 

Líder mundial em tecnologia do setor de óptica e optoeletrônica, a alemão ZEISS desenvolve, produz e distribui soluções altamente inovadoras em metrologia industrial e controle de qualidade, soluções em microscopia para pesquisa em ciências da saúde e materiais e soluções em tecnologia médica para diagnóstico e tratamento em oftalmologia e microcirurgia. A marca ZEISS também é referência internacional em litografia óptica, usada pelo setor de chips na fabricação de componentes semicondutores, além de definir tendência em produtos que atendem à demanda mundial, como lentes de óculos, câmeras e binóculos.